Het materiaal van de RÖNTGENSTRAALopsporing is momenteel de producten van de marktheersende stroming van niet-destructief het testen materiaal, die met traditionele visuele inspectie worden vergeleken en heeft de visuele inspectie van AOI, het de kenmerken van transparanter, meer diepgaand, het niet alleen kan de tekorten ontdekken waarbinnen van het product, maar ook de tekortbeelden, verenigbaar product voor talrijk maar producttype kan bewaren, door het CNC programma te roepen om de gehele serieopsporing te voltooien. Zoals aangetoond in het beeld hieronder, nadat elk product volgens de matrijs wordt geschikt, wordt een beeld genomen van elke knoop door CNC horizontaal of longitudinaal aftasten, dat de opsporingstijd kan zeer verkorten en van grote betekenis voor off-line opsporing van grote hoeveelheden is.

In veel gevallen, heeft het off-line materiaal van de Röntgenstraalopsporing hogere kostenprestaties die met de online Röntgenstraalopsporing worden vergeleken. Momenteel, wordt het AX8200-apparaat hoofdzakelijk bevorderd door UNICOMP, die aan de behoeften van de meeste klanten kan voldoen. Zowel CNC zijn de de automatische opsporing als prijs een hoogtepunt.

Terug naar het onderwerp, welke producten kan het materiaal van de Röntgenstraalinspectie ontdekken?

Op het gebied van opsporing van elektronische componenten, zoals IC-spaanders, kunnen leiden, BGA-het lassen, de halfgeleider, IGBT, LCD de panelen, PCB-de kringsraad, de keramiek en andere producten, maar niet alle producten, zoals zware metalen met hoogte worden ontdekt - dichtheid of vooral te dikke producten, over het algemeen meer dan 3mm van metaaldelen, Gewone Röntgenstralen zijn vrij moeilijk te doordringen, zodat wordt de bron van de hoogspanningsröntgenstraal gebruikt. Momenteel, is het straal bronvoltage van Unicomp-Technologie over het algemeen geconcentreerd in 90 KV aan 450 KV.

Om samen te vatten, A=M*N (A is een specifiek aantal, is M de dichtheid, en N is de dikte). In het kort, onder het gebouw dat A onveranderd blijft, of de penetratieopsporing kan worden bereikt hangt van de waarden van M en N. af. Hoger is de dichtheid van M, zal de dikte van N verminderen; anders, kan kleiner de dichtheid van M, de opspoorbare dikte worden vergroot.

Om meer informatie over Unicomp-Technologie te kennen, gelieve te voelen vrij om ons per e-mail te contacteren: marketing@unicomp.cn of bezoekt onze website: www.unicompxray.com.Th ank u!