Laser die het Materiaal van de Röntgenstraalfluorescentie met Automatisch Driedimensioneel Steekproefstadium concentreren

De fluorescentie (ED-XRF) spectrometer edxrf-UN3D van de energie definieert de verbrokkelde Röntgenstraal analyse ED-XRF met uitzonderlijke nieuwe niveaus van prestaties opnieuw

De Unicomptechnologie edxrf-UN3D de Super spectrometrie van de Röntgenstraalfluorescentie (XRF) kan de dikte van deklaag zonder vernietiging snel analyseren, vergt geen voor consumptie geschikt materiaal, en vergt enkel zeer lage onderhoudskosten. Beëindig gewoonlijk analysebehoefte slechts 30 seconden. Het element van deklaag en het aantal lagen kunnen volgens de behoefte van de klant worden gevormd. Kerncomponenten - voeding en Röntgenstraal de ingevoerde detector met hoog voltage is origineel. De speciale software van het analyse edxrf-UN3D Werkstation naast maatregel de deklaagdikte maakt RoHS/ook ELV/halogeen-vrije analyse.

Eigenschappen

Automatisch driedimensioneel steekproefstadium

3D X, Y, z-stepper het systeem van de motorcontrole, met camerabeheer wordt gecombineerd, laat steekproefbeweging door softwarecontrole die toe.

Röntgenstraal beneden-verlichting, laser het concentreren zich

Het ontwerp van de röntgenstraal beneden-verlichting, laser die concentreren, voor onregelmatige vormsteekproeven, geen behoefte te verdelen, kan direct worden getest.

Klein vlekontwerp

De minimumvlek is slechts 0.1mm, die van kleine testpunten kunnen nauwkeurig de plaats bepalen om interferentie te vermijden. Volgens klantenvereisten, kunnen om het even welke drie collimators van Φ0.1mm, Φ0.3mm, Φ0.7mm en Φ3.0mm snel worden geselecteerd. Voldoe aan de testbehoeften van verschillende groottepunten in de steekproef.

Test de aanpassing van de tijdflexibiliteit

De steekproeven van verschillende materiële types vereisen verschillende metingstijden, en de lengte van meting kan volgens het type van steekproef en de nauwkeurigheidsbehoeften van de klant worden geplaatst. De buitenste laag van de conventionele deklaagtest is beter dan ±5%, en de buitenlaag is beter dan ±10%.

Het pakhuis van de multi-specificatiesteekproef

Een verscheidenheid van grootte van het steekproefcompartiment om aan een verscheidenheid van steekproef testende behoeften te voldoen!

Randconfiguratie