Thuis ProductenDe Spectroscopie van de röntgenstraalfluorescentie

Hoog Nauwkeurig EDXRF-de Fluorescentiemateriaal van de Energie Verbrokkeld Röntgenstraal voor het Plateren Diktemeting

Certificaat
China Unicomp Technology certificaten
China Unicomp Technology certificaten
Klantenoverzichten
Stabiele productkwaliteit, betrouwbare samenwerkingspartner

—— M. Smith

Unicomp Techology is werkelijk indrukwekkend.

—— Selvam N

U bent goede en betrouwbare leveranciers opnieuw dank

—— M. Merlin Euphemia

Koppel wij kreeg van de eenheid terug die wij zijn tot dusver zeer goed hebben gekocht. De cliënt is gelukkig.

—— M. Nicholas

Een professionele Life-long vrije software die van het de dienstteam Geschikte technische ondersteuning bevorderen

—— Mej. Rein

Wij hebben Unicomp bezocht. Het is groot bedrijf in China. En hun ingenieurs zijn zo professioneel.

—— M. Okan

Geplande vraag & bezoeken Onsite de installatie, het zuiveren en opleidingsdiensten

—— Mevr. Yulia

Het werk van Nice aangaande de Röntgenstraalmachine!

—— Qusaay Albayati

Ik ben online Chatten Nu

Hoog Nauwkeurig EDXRF-de Fluorescentiemateriaal van de Energie Verbrokkeld Röntgenstraal voor het Plateren Diktemeting

High Accurate EDXRF Energy Dispersive X-Ray Fluorescence Equipment For Plating Thickness Measurement
High Accurate EDXRF Energy Dispersive X-Ray Fluorescence Equipment For Plating Thickness Measurement

Grote Afbeelding :  Hoog Nauwkeurig EDXRF-de Fluorescentiemateriaal van de Energie Verbrokkeld Röntgenstraal voor het Plateren Diktemeting

Productdetails:

Plaats van herkomst: China
Merknaam: Unicomp
Certificering: CE
Modelnummer: Edxrf-UN8S

Betalen & Verzenden Algemene voorwaarden:

Min. bestelaantal: 1 set
Prijs: Negociation
Verpakking Details: Houten Geval, Waterdicht, Antibotsings
Levertijd: 15 dagen na de bevestiging van de bestelling
Betalingscondities: Western Union, T/T, bevestigingsbrief
Levering vermogen: 100 sets per maand
Gedetailleerde productomschrijving
x-ray voltage: 0-50 kV Detectortype: Si-speld
Resolutie: 139 tot 260 eV FWHM bij 5,9 keV Energiewaaier: 1,5 tot 25 keV
Dimensies: 380 mm x 510mm x 365 mm macht: 330W
Hoog licht:

x ray fluorescence instrument

,

x ray fluorescence equipment

Hoog Nauwkeurig EDXRF-de Fluorescentiemateriaal van de Energie Verbrokkeld Röntgenstraal voor het Plateren Diktemeting

 

Producteigenschappen:

  • Analyse van elementen van Na aan U
  • Analyseer: vaste lichamen, vloeistoffen, poeder, legeringen en dun films
  • Gemakkelijke verrichting zonder vernietiging te analyseren
  • Analyseer snel snelheid om ongeveer jaren '30
  • Zichtbare steekproefstatus terwijl het testen
  • Hoog nauwkeurig testend resultaat
  • De kleine voetafdruk gebruikt minder waardevolle laboratoriumruimte

 

Toepassingen:

  • Analyseer de dikte van deklaag;
  • RoHS/ELV/halogeen-vrije analyse.
  • Analyse van standaardmetaallegeringen
  • Analyse van spoorlood in TiO2-poeder dat in schoonheidsmiddelen wordt gebruikt

Specificaties:

 

Instrumentenspecificaties
Afmetingen 380 mm x 510mm x 365 mm
De grootte van het steekproefcompartiment 360mm×330 mm ×50 mm
Gewicht 33.5kg
Voeding AC220V/50Hz
Maximummacht 330W
Werkende Temperatuur 15-30℃
Relatieve Vochtigheid ≤85% zonder condensatie
Röntgenstraalbuis
Voltage 0-50kV
Max.Power 50W
Detector
Detectortype Si-speld
Resolutie 139 tot 260 eV FWHM bij 5,9 keV
Energiewaaier 1,5 tot 25 keV
Software
Analyse van elementen: U van Na ~
Analysetijd 60 tot 400 seconden
Röntgenstraallekkage <0>

 

 

Markering: EDXRF, Samenstellingsanalyse, het Plateren Diktemeting

Contactgegevens
Unicomp Technology

Contactpersoon: Unicomp-sales

Direct Stuur uw aanvraag naar ons (0 / 3000)